Dark Mode Light Mode
Pasangan Kurir Narkoba Ditangkap Bawa 15 Kg Sabu di Indonesia Terancam Hukuman Berat
Pengukuran kedalaman sambungan PN dangkal terpendam dalam wafer Si secara non-kontak dan skala nanometer
Pemenang di Balik Gemerlap Seoul Music Awards ke-34

Pengukuran kedalaman sambungan PN dangkal terpendam dalam wafer Si secara non-kontak dan skala nanometer

Siapa bilang teknologi wafer itu membosankan? Bayangkan kita punya alat yang bisa mengintip ke dalam wafer silikon tanpa harus menyentuhnya. Kedengarannya seperti film fiksi ilmiah, kan? Tapi, inilah kenyataan yang sedang dikembangkan para ilmuwan!

Mengupas Misteri PN Junction dengan Sinar Terahertz

Dunia semiconductor itu rumit. Kita bicara tentang wafer silikon, transistor, dan segala macam komponen kecil yang membuat gadget kita berfungsi. Salah satu komponen kunci adalah PN junction, area di dalam wafer tempat bahan semiconductor tipe-p dan tipe-n bertemu. Kedalamannya, yang diukur dalam nanometer, sangat krusial untuk performa perangkat.

Teknologi manufaktur Si LSI adalah fondasi masyarakat modern. Masalahnya, selama ini belum ada teknologi skala wafer yang bisa mengevaluasi distribusi medan listrik internal, karakteristik transportasi pembawa muatan, defek, dan respons kecepatan tinggi perangkat secara cepat, non-destruktif, dan tanpa kontak. Padahal, semua ini penting karena perangkat semakin mini dan tiga dimensi demi integrasi kepadatan tinggi.

Sebuah tim peneliti internasional dari Okayama University, Rice University, Samsung Japan Research Institute Group, dan Samsung Electronics Group berhasil mengembangkan metode baru untuk mengestimasi kedalaman PN junction yang terbentuk dangkal di dalam wafer Si dengan resolusi skala nanometer secara non-destruktif dan tanpa kontak. Ini pertama kalinya, lho!

Metode ini menggunakan laser femtosecond (laser pulsa ultra pendek) untuk menyinari PN junction di dalam wafer. Hasilnya? Gelombang elektromagnetik terahertz (gelombang THz) berhasil diukur karena generasi photocarrier di PN junctions. Ini seperti menemukan harta karun di dalam wafer!

Photocarrier yang tereksitasi dipercepat di wilayah depletion, menuju lapisan Si tipe-n untuk elektron dan menuju lapisan Si tipe-p untuk hole. Arus sesaat yang dihasilkan kemudian memicu gelombang THz, yang merambat ke permukaan dan dipancarkan ke ruang angkasa. Ini keren banget, kan?

Prof. Tonouchi menekankan, "Gelombang THz pada dasarnya dihasilkan melalui perilaku photocarrier ultra cepat yang rumit, tetapi dengan menggunakan model sederhana dari perilaku tersebut, kita dapat memahami pergerakan pembawa muatan secara intuitif dan mengevaluasi kedalaman PN junction."

Kenapa Gelombang Terahertz Itu Spesial?

Gelombang terahertz (THz) berada di antara gelombang mikro dan inframerah pada spektrum elektromagnetik. Mereka punya kemampuan unik untuk menembus berbagai material non-logam, seperti plastik, kertas, dan… wafer silikon! Inilah yang membuat mereka ideal untuk inspeksi dan karakterisasi material tanpa merusak.

Teknologi non-destruktif ini penting karena kita tidak perlu memotong atau menghancurkan wafer untuk memeriksanya. Ini berarti lebih sedikit pemborosan material dan lebih banyak wafer yang bisa digunakan. Plus, prosesnya lebih cepat dan efisien.

Implikasi Masa Depan: Revolusi Manufaktur Semiconductor

Penemuan ini memiliki implikasi besar untuk masa depan manufaktur semiconductor. Pertama, memungkinkan pengukuran yang lebih presisi dan akurat dari PN junction. Ini berarti kita bisa membuat chip yang lebih kecil, lebih cepat, dan lebih efisien.

Kedua, metode ini non-contact, yang mengurangi risiko kontaminasi dan kerusakan pada wafer. Ini penting karena bahkan partikel terkecil pun dapat merusak performa chip. Ketiga, teknologi ini dapat digunakan untuk menginspeksi seluruh wafer secara cepat dan efisien, yang menghemat waktu dan biaya.

Dr. Murakami menjelaskan, "Awalnya sulit menggunakan panjang gelombang laser yang lebih pendek untuk mengeksitasi PN junction dangkal Si karena kedalaman penetrasi laser femtosecond tipikal dengan panjang gelombang sekitar 800 nm, jauh lebih panjang dari 10 mikrometer untuk Si. Kami menemukan bahwa setengah panjang gelombang cocok dalam kasus ini, dan dengan menyetel panjang gelombang, kita dapat mengevaluasi junction yang lebih dangkal dengan lebih tepat."

Teknologi ini memungkinkan akses cepat, non-destruktif, dan tanpa kontak ke interior wafer, yang sulit dilakukan dengan teknologi analisis yang ada. Ini menghadirkan inovasi penting untuk memecahkan masalah kompleksitas perangkat semiconductor yang semakin tinggi.

Hasil penelitian ini diharapkan tidak hanya memberikan evaluasi struktur wafer untuk perangkat, tetapi juga memberikan solusi pengukuran komprehensif yang memungkinkan pengujian tanpa kontak dalam proses manufaktur semiconductor, yang berkontribusi pada peningkatan keandalan perangkat dan pengurangan sumber daya yang dikonsumsi dalam proses manufaktur. Jadi, lebih ramah lingkungan juga, kan?

Masa Depan Itu Ada di Genggaman (atau di Dalam Chip)

Penelitian ini menunjukkan bahwa kita semakin dekat dengan masa depan di mana kita dapat memahami dan mengendalikan dunia mikro dengan presisi yang belum pernah terjadi sebelumnya. Dengan alat seperti ini, kita dapat membuat chip yang lebih canggih, gadget yang lebih pintar, dan teknologi yang mengubah dunia.

Jadi, lain kali Anda menggunakan smartphone atau laptop Anda, ingatlah bahwa ada sekelompok ilmuwan yang bekerja keras untuk membuat teknologi di dalamnya lebih baik, satu nanometer pada satu waktu. Dan, siapa tahu, mungkin suatu hari nanti kita bisa mengintip ke dalam wafer silikon dengan smartphone kita sendiri!

Add a comment Add a comment

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *

Previous Post

Pasangan Kurir Narkoba Ditangkap Bawa 15 Kg Sabu di Indonesia Terancam Hukuman Berat

Next Post

Pemenang di Balik Gemerlap Seoul Music Awards ke-34